半導體美國博曼（BOWMAN）X射線熒光膜厚測試儀，專業(yè)測量金、銀 鈀 銠 鎳 銅 錫 等貴金屬多鍍層膜厚測量，快速 精準 無損，業(yè)內廣受好評，采用X-射線熒光方法和獨特的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結構鍍層的測量系統(tǒng)。 它的出現解決了分析和測量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來的挑戰(zhàn)。這種創(chuàng)新技術的，目前正在申請利的X-射線光學可以使得在很小的測量面積上產生很大的輻射強度，這就可以在小到幾reg;微米的結構上進行測量。在經濟上遠遠優(yōu)于多元毛細透鏡的Fischer專有X-射線光學設計使得能夠在非常精細的結構上進行厚度測量和成分分析，高分辨接收器，配合快速信號處理系統(tǒng)能達到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數秒鐘，所有從13號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
半導體美國博曼（BOWMAN）X射線熒光膜厚測試儀以更有效的過程控制來提高生產力 有助電鍍過程中的生產成本最小化、產量最大化
快速無損地分析珠寶及其他合金 有需要的有友請來電咨詢希望我們能成為長期的合作伙伴。聯系人：陳小姐 13691950203    電話：0755-29371652