Agilent4284A電橋
東莞市新創(chuàng)通用儀器有限公司
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二手測(cè)試儀器測(cè)量儀表；銷售；回收；維修；租憑；等相關(guān)業(yè)務(wù)主營
高價(jià)上門回收二手儀器儀表；價(jià)格公道，童叟無欺
頻率范圍：20HZ—1MHZ 
阻抗范圍：0.01mΩ-100MΩ 
基本測(cè)量精度：0.05% 
主要用途
測(cè)試材料的電導(dǎo)率ρ、介電常數(shù)ε、電阻R、電抗X、阻抗Z、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q。
可以完成材料的介電溫譜測(cè)試，測(cè)試溫度范圍：室溫 -1000℃ 
?電橋 HP4284A0.05%的基本精度，6位數(shù)字分辨率
?恒定的V或I測(cè)試信號(hào)電平
?20Vrms電平選件（選件001）
?用Alilent 42841A進(jìn)給出40Adc
?具有列表掃描測(cè)量功能
Agilent4284A精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器。它通過提供精確、高吞吐量的測(cè)試方法來改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào)，使4284A在測(cè)試元件時(shí)符合最通行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如IECMIL標(biāo)準(zhǔn)（國際電工委員會(huì)或美國軍用標(biāo)準(zhǔn)），且工作在模擬所使用的工作條件下。無論在研究開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗(yàn)，4284A都能滿足全部LCR測(cè)量要求。
電橋 HP4284A技術(shù)指標(biāo)
被測(cè)參數(shù) Z-θ,Y-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp,L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差 
測(cè)量電路模式 串聯(lián)和并聯(lián) 
量程轉(zhuǎn)換 自動(dòng)和手動(dòng) 
觸發(fā) 內(nèi)部、外部和總線（HP-IB） 
延遲時(shí)間 0-60.00s以1ms步進(jìn) 
測(cè)量終端 四端對(duì) 
測(cè)試電纜長度 標(biāo)準(zhǔn)：0和1m；帶選件006時(shí)：0、1、2和4m 
積分時(shí)間： 短、中等和長 
取平均： 1-256可程控 
測(cè)試信號(hào)： 20Hz-1MHz±0.01%8610個(gè)可選擇頻率 
測(cè)試信號(hào)方式： 
標(biāo)準(zhǔn)： 分別在開路或短路的測(cè)量端，而不是在被測(cè)件上對(duì)選一的電壓或電流編程 
恒定： 維持被測(cè)件上選定的電壓或電流，而與器件阻抗和變化無關(guān) 
測(cè)試信號(hào)： 電平 標(biāo)準(zhǔn) 恒定 
4284A 5mV~2V,50μA-20mA 10mV-1V,100μA-10mA 
選件001 5mV~2V,50μA-200mA 10mV-10V,100μA-100mA 
直流偏置： 標(biāo)準(zhǔn)：0V，1.5V和2V 
選件：0V-±40V 
測(cè)量顯示范圍 參數(shù) 范圍 
Z,R,X 0.01mΩ-99.9999MΩ 
Y,G,B 0.01nS-99.9999S 
C HP 4284A0.01fF-9.9999F 
L HP 4284A0.01nH-99.9999kH 
D 0.000001-9.99999 
Q 0.01-99999.9 
θ -180.000°~180.000° 
Δ% -999.999%~999.999% 
基本測(cè)量精度 Z,C,L D 
0.05% 0.0005 
補(bǔ)充特性： 
測(cè)量時(shí)間： 從觸發(fā)命令到處理器界面連接器上的結(jié)束測(cè)量（EOM）輸出的典型測(cè)量時(shí)間 
短 40ms 
中等 190ms 
長 830ms 
選件001直流偏流輸出 100mA 
max 
顯示器： 
LCD點(diǎn)陣顯示： 顯示被測(cè)值，控制設(shè)置，比較極限和判決，列表掃描表，自測(cè)試信息和信號(hào)指示 
修正功能 開路短路誤差為0：消除由測(cè)試夾具雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差 
接負(fù)載： 利用已校器件作為參考來改善測(cè)量精度 
列表掃描功能 最多可對(duì)10個(gè)頻率或測(cè)試信號(hào)電平編程?？蛇M(jìn)行單次測(cè)試或順序測(cè)試，當(dāng)安裝上選件001時(shí)，還能進(jìn)行直流偏壓測(cè)試 
比較器 
10倉室（ten-bin)分類用于一次測(cè)量參數(shù)。輸入輸出用于一次測(cè)量參數(shù) 
倉室計(jì)數(shù)： 0-999999 
列表掃描比較器： 高符合低判定輸出用于列表掃描表中的每個(gè)測(cè)量點(diǎn)