Anritsu 37297D 網(wǎng)絡分析儀 供應

 歐陽R:13537229325

Anritsu 37297D 40MHz-65GHz, 兩端口矢量網(wǎng)絡分析儀

37000D系列Lightning系列微波/毫米波矢量網(wǎng)絡分析儀整合了各種高 的測試功能，能夠滿足日益增長的來自 、航空/航天、 通信、以及光電器件市場的測試需求。Lightning系列所采用的技術和實際性能表現(xiàn)都是當今進的，除了快速且精 的S參數(shù)測量以外，同時還支持眾多更別的測量，包括：時域、增益壓縮、諧波、交調(diào)、頻率變換器件測量、多端口測量、以及光/電和電/光器件測量。如此的測量系統(tǒng)可以覆蓋20GHz、40GHz、以及67GHz頻段，對應的產(chǎn)品型號分別是37x47D、37x69D和37x97D。對于67GHz以上的測量需求，基于Lightning構建的ME7808C VNA測試系統(tǒng)是的方案。獲 的ME7808C VNA測試系統(tǒng)支持從40MHz到110GHz的快速連續(xù)掃描，如此寬的單次掃描頻率覆蓋使得ME7808C十分適合于在片（on-wafer）測試和器件建模應用。另外，ME7808C還可以被配置為毫米波測量系統(tǒng)，毫米波測量系統(tǒng)是 測量系統(tǒng)的經(jīng)濟型版本，可以分段覆蓋V、E、以及W頻段，擴展頻段可以達到500GHz。ME7808C測量系統(tǒng)需要用到外部的頻率擴展模塊，范圍有多家廠商都可以提供這樣的模塊。為了更有效的支持多端口器件的測量，Lightning系列還能夠4端口、8端口或12端口測試系統(tǒng)。多端口擴展需要外部測試座、端口擴展模塊、以及多端口校準軟件。另外，多端口擴展還支持在片（on-wafer）測量（需要另外購買探針臺）。37300D系列具備閃電系列的全部特點。它是測試無源、有源器件的理想儀器。標準配置包括步進衰減器、內(nèi)部偏置座，增益壓縮功能和超寬的頻率范圍。簡單地增加 測試座、兩臺合成源和希望的毫米波模塊，任意一臺37300D都可以配置成ME7808C毫米波VNA。 多源控制和頻率偏置 E/O和O/E應用 增益壓縮應用 內(nèi)置偏置座 擴展功率范圍（源端和接收機端都有步進衰減器） 后面板IF輸入（用于升級到毫米波） 混頻器測量時的N×N校準 植入/剝離應用  頻率參考 1Hz頻率分辨率37200D系列是經(jīng)濟型雙端口矢量網(wǎng)絡分析儀，是專為無源器件測試使用而設計的，它省去了僅在測試有源器件才需要的裝置。簡單地增加 測試座、兩臺合成源和希望的毫米波模塊，任意一臺37200D都可以配置成經(jīng)濟型毫米波VNA。 多源控制和頻率偏置 E/O和O/E應用 后面板IF輸入（用于升級到毫米波） 混頻器測量時的N×N校準 植入/剝離應用  頻率參考 1Hz頻率分辨率 

常用型號 37247D 40MHz-20GHz, 兩端口矢量網(wǎng)絡分析儀（經(jīng)濟型無源器件測試）

Anritsu 37269D 40MHz-40GHz, 兩端口矢量網(wǎng)絡分析儀（經(jīng)濟型無源器件測試）

Anritsu 37297D 40MHz-65GHz, 兩端口矢量網(wǎng)絡分析儀（經(jīng)濟型無源器件測試）

Anritsu 37347D 40MHz-20GHz, 兩端口矢量網(wǎng)絡分析儀（全功能型無源/有源器件測試）

37369D 40MHz-40GHz, 兩端口矢量網(wǎng)絡分析儀（全功能型無源/有源器件測試）

37397D 40MHz-65GHz, 兩端口矢量網(wǎng)絡分析儀（全功能型無源/有源器件測試）

ME7808C 40 MHz - 110 GHz(可擴展到 500 GHz)超 與毫米波矢網(wǎng)測量系統(tǒng)（毫米波器件測試）主要技術特征 高速數(shù)據(jù)傳輸和控制具有雙GPIB標準端口，分別用于數(shù)據(jù)傳輸和控制外圍設備時域分析（選件）通過37000D的時域分析選件，可對器件進行高速時域分析 多源控制和進入接收機模式 通過多源控制，37000D能方便地實現(xiàn)測試混頻器和倍頻器功能。能夠單獨控制2個源的頻率，還能控制接收機，而無需外部控制器?？梢?信號源的掃描范圍和輸出功率及接收機的掃描范圍。37000D進入接收機模式時通過與內(nèi)部晶體振蕩器鎖相調(diào)諧接收機。 軟件工具及其能力 具有自動測試軟件的 終解決方案 NxN校準功能 用于頻率轉換器件測量的誤差修正 內(nèi)部控制自動校準件 內(nèi)置的軟件，通過接口連接AutoCal模塊，實現(xiàn)快速、準確和可重復的校準 植入/剝離 剝離功能可去掉測試夾具和其它網(wǎng)絡對測試結果的影響植入功能可作為優(yōu)化放大器和其它設計的模擬匹配電路大容量內(nèi)存 使得具有多重設置器件的測量變得容易進行，可快速存儲和調(diào)用常用的設置和校準 靈活的測試座（選件） 配置6個回路：4個直接訪問接收機回路和2個輔助信號源回路，以便進行混頻器、天線、連接外部測試座的測試