顆粒粒徑分析儀是一種用于測(cè)量和分析顆粒物體的粒徑（尺寸）分布的儀器。它可以應(yīng)用于不同領(lǐng)域，如材料科學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、食品工業(yè)、制藥等。

顆粒粒徑分析儀可以使用多種測(cè)量原理進(jìn)行粒徑分析，其中常見的包括：

1、激光散射原理：通過(guò)激光束照射到樣品上，測(cè)量散射光的角度和強(qiáng)度變化，從而計(jì)算出顆粒的粒徑分布。

2、動(dòng)態(tài)光散射原理：利用顆粒在液體或氣體中的擴(kuò)散運(yùn)動(dòng)，通過(guò)測(cè)量光散射的強(qiáng)度和時(shí)間變化，計(jì)算出粒徑分布。

3、圖像分析原理：基于圖像處理技術(shù)，通過(guò)拍攝顆粒的圖像并分析其形狀和大小，得出粒徑分布。

測(cè)量范圍：

測(cè)量范圍依賴于樣品和儀器。對(duì)于金樣品，顆粒跟Z技術(shù)的檢測(cè)下限為10nm；相應(yīng)的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測(cè)下限會(huì)變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會(huì)沉淀或漂浮，zeta電位測(cè)量的粒徑上限為50微米，對(duì)于粒徑測(cè)量為3微米。

顆粒粒徑分析儀通常具有以下特點(diǎn)：

1、快速高效：能夠快速地測(cè)量大量顆粒，并生成粒徑分布曲線或報(bào)告。

2、寬尺寸范圍：能夠測(cè)量不同粒徑范圍的顆粒，從納米級(jí)到幾毫米甚至更大。

3、自動(dòng)化功能：一些顆粒粒徑分析儀配備自動(dòng)進(jìn)樣和數(shù)據(jù)處理功能，提高操作效率和減少人為誤差。

4、多種參數(shù)測(cè)量：除了粒徑，還可以測(cè)量顆粒的形狀、濃度、表面電荷等參數(shù)。

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